Download Visualizza/apri

Il progetto RAPS
86
modificarne la caratteristica di trasferimento in modo che la tensione
d’ingresso, col pixel non colpito, si trovi in corrispondenza della zona ad
alto guadagno. L’uscita dell’inverter è collegata al gate di un nMOS che
collega i bus di colonna e di riga corrispondenti al pixel stesso; è inoltre
connessa in feedback al gate del MOS di reset del fotodiodo.
Figura 51 - Schematico del pixel SHARPS
In caso di impatto di una particella, l’abbassamento della tensione sul
catodo del fotodiodo causa un forte aumento del valore d’uscita dell’inverter
CMOS (essendo l’uscita del SF in corrispondenza della zona ad alto
guadagno in ingresso dell’inverter), che permette l’accensione dell’nMOS
che collega i bus di riga e colonna. Su questi, essendo posti uno ad
alimentazione e uno a massa, si instaura una corrente che viene rilevata
dalla circuiteria esterna alla matrice, generando un evento. In seguito
all’evento generato, la logica invia all’esterno un burst di dati, contenente i
valori di corrente letti su tutti i bus di riga e di colonna della matrice:
un’informazione di N righe + M colonne, esattamente come per il WIPS. La
differenza è che in questo caso il burst di dati viene generato in conseguenza
di un evento, e non in seguito ad una scansione periodica come nel WIPS. Il