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WaveLink Probes D600A-AT, D600 and D300AT, D300 フラットな周波数応答 これまでプローブのデータシートは、プローブの出力が -3dB減衰する最低周波数を示すことで、帯域幅の仕様を載 せているだけでした。このパラメータは、プローブの使用可 能最大周波数レンジを決めるのに便利なものですが、波形の 正確さを知る上ではあまり役に立ちません。プローブの周波 数応答における振幅リップルは、入力部の内部反射により発 生することが多いのですが、これにより表示波形を大きく歪 ませてしまうことがあります。D600A-ATプローブの周波数 応答を「微調整」する補正係数は、独自の補正プロセスによ り、1つ1つのプローブについて測定され、プローブ内にプ ログラムされています。SDA、WaveMaster、WavePro 7000シリーズ、DDAのDSOのソフトウエアはこのデータを 読み取り、その読み取り値を使用してシステム全体の応答を デジタル補正します。この技術は、これまで、リファレン ス・レシーバに必要な高度な周波数特性を実現するために O/Eコンバータで使用されていました。WaveLinkは、通常 の電圧測定で極めて優れた波形精度を実現するためにこの技 術を採用した最初の差動プローブです。 高精度なアイパターン測定に向けて 周波数応答はフラットでも負荷の大きいプローブを使ったシステム で測定した3.125 Gb/s XUAI信号 アイパターン測定は、高速デジタル機器の設計において一般 的になってきています。かつて、アイパターン測定は、高デ ータ・レートのオプティカルあるいは電気的なシリアルデー タ・アプリケーションでしか行われていませんでしたが、今 では高速パラレルデータのバス・アーキテクチャを使ったシ ステムでもよく行われるようになりました。一般に、波形の 歪みを表示するアイパターンを解釈するときは、いつも問題 が生じます。つまり、この歪みが回路本来のものなのか、あ るいは測定システムが生み出した技術上のものなのか、とい うことです。多くの場合、後者のケースが該当し、プローブ が歪みの主な原因になっていることがあります。 WaveLinkプローブの優れた負荷特性は、D600A-ATの正確な 周波数応答と共に、高速信号のアイパターンを最高の精度で 捕捉することを可能にします。一般に、フラットな周波数応 答だけで高精度のアイパターンが得られるという誤った認識 が広まっていますが、実際は、被測定回路の真の性能を忠実 に測定するのに必要な信号精度は、低負荷とフラットな周波 数応答を組み合わせることによって得られるのです。 同じ信号をWaveLink D600A-ATで測定した場合。低負荷とフラット な周波数応答を組み合わせることで、アイパターンの精度が維持さ れる。