Download JIS Z 4337: Installed articles surface contamination monitoring

JAPAN
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JIS Z 4337 (2011) (Japanese): Installed articles
surface contamination monitoring assemblies for
beta emitters
Th
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i
据置形 β 線用物晶表面汚染モニタ
J
I
SZ4337: 川
(JEMIMAIJSA)
平成 23 年 I 1 月 21 円改正
日本工業標準調査会審議
(日本規格協会発行)
了 fl 抱法により 無断での出関 . t.=:: 蔽帯は:Z l l:されております
Z4337:2011
円本工業保準 i凋査会保郡部会計測計fü伎術専門委只会情成表
所仙
氏名
(委員会長)
田中
充
独立行政法人産業技術総合研究所
(
1
i
(
1
)
5荷滞正
l沼
社団法人日本計 11機鰐工業Jili合会(大和製衡株式会社)
大木硲史
日本光学工業協会(株式会社ニコン)
大谷~子
公益社団法人日本消岱生活アドパイザー ・ コンサルタント協会
渋谷興人
東点工芸大学
唱団誠治
.[11
主務大臣:経済注業大庄
'lr
厄茂樹
祉関法人円本 rn~u十測器工業会
社開法人日本工作機械工業会(大阪機工株式会社)
中本文男
一般財団法人日本品質保証
長坂雄
環境省
古谷話(秋
点止(fU機大学
渡遁英孝
日本有i 密測定機器工業会
市IJ 定:平成 9.7.20
改正:平成 23.1 1. 21
報公示:平成 23.1 1. 21
原案作成者:社開法人円本氾気 J 測摺工業会
(〒 103 ・0014
東京都中央区日本絹蛎般町 2 ・ 15・ 12
J-[- 測会館
TEL03 ・ 3662 ・ 8181 )
財団法人日本規格協会
(〒 107・8440
14Dk 都港 l玄亦板 4・ 1 ・24
TEL03・ 577ふ 1571 )
審議部会;臼本工業開市; 凋査会僚$部会(部会長稲 L定数)
者自民 ~Ij.門 ・1J! μ 会:計測計五T技術専門長 u 会(要日会 1Æ
田中
充)
この規格についての意見又は質問は.上ぷ原案作成者又は経済産業省産業技術開境 J，lJ 弘雄!認証ユニット産業基鰹線 、
化推進室(干 100・8901
東京都千代田区 ru が|則 l ・3-) )にご辿絡ください 。
なお. [1 本工業規絡は.工業掠部化法第 15 条の規定によって.少なくとも 5 年を経過する日までに日本工
会の宿品に付され .ktやかに.碩:必.改正又は出 ü: されます @
~í~， ~弘法により 無断での
1.t~~J1:ぷれております 。
Z4337:2
0
1
1
山
ゲ\
ヘーン
1
鹿用範囲…・・・・
2 51 用規格....・ H ・
3 用語及び定義…・
4 分類・・…一…
4.
1 測定時の物品の移動の有無による分類…
4
.
2
5
測定時のパック夕、ラウンド描儲の有無による分類…
性能…..........................................様..........ーー・ーー.........・・‘・ 0 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・雀雀・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・‘・ a ・...・ a ・・・・・・・調・ー・.......・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 9 ・・ 2 ・・・・・ 2
5
.
1 機器殊事の線源位置特性…一....~..~… H ・ H ・-…………........……・・…一一…… H ・ M ・-・…..・・・・・・・・・・ a ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 2
5
.
2 最小検出表面接出率…
5
.
3 エネ J~ ギー特性...‘・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ a ・ a 偽補事・・・.. .
.
.
.........
.
........."
....
..........
....
....................~ ~...
..咽帯.....・ a ・・・・・・・・・・・・・・ e ・・・ e ・・..ー..・ e 検事有毒.. ~ ~.
...
............
.......
.
.‘'・ 3
5
.
4 警報動{乍・…
5
.
5 オーバスケーん特11主.............・ H ・・・・・・・・・‘・...........................聴事事事ー・‘・ー・ー・ー..‘・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・珊瑚樹剥“‘・・・・・ー........・・・・・・・・ e ・・・・・・・・・・・・ー・・‘・ 3
5
.
6 湿度特性…5
.
7
需湿性+...・ M ・…….....・ H ・..
5
.
8
電源意思の変動 iこ対する安定'性……..........................
6
構造...・ H ・-…-…… H ・ H ・..............・....・ H ・-… H ・ H ・-…ぃ… H ・ H ・-…一.......，.............・ H ・..........…........….......・ H ・..………・・..........…ー… 3
6
.
1
…3
6
.
2 検出チャネル…・
6
.
3 器号処理部……-
6
.
4
表示蔀…
6
.
5 警報装雷……
6
.
6 電源部…...，・・
7 試験…
日試験条件…・
7
.
2
試験方法…
8 検査…
8.
1
形式検蓋.......…………
払2
受渡検査…一一………......................ー・.......考・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・..".
9 表示時取扱説明書一
附属書生(参考〉擢撞形 p 線用物品表菌汚染モニタによる放射性表面汚染の瀧定方法…
解説…
〆，sz
、、
一、、Jき
y，
i
れております。
Z4337:2
0
1
1
まえがき
この規格は，工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき，社同法人日本電気
計測器工業会 (JEMJMA) 及び財団法人日本規格協会(J SA) から，工業標準原案を具して日本工 来規約 を
改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審 議 を経て，経済産業大臣が改ー正した日本工 業規格 で
ある 。
これによって， J
ISZ4337:1997 は改正され，
この規格に置き換えられた 。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の」部が特許権
出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する 口 経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない 。
(
2
)
著作品jl; により?っ切ての tR~ ， í伝競 等 は 禁 11こ さ れ て お ります。
日本工業規格
J
I
S
2
0
1
1
Z4337:
据置形 F 線用物晶表面汚染モニタ
I
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gassemblies
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適用範囲
1
この規格は，原子力施設などの管理区域から搬出する物品の表面汚染を測定するため，最大エネルギー
0
.
1
5MeV 以上の戸線を放出する核種による汚染の検出を目的とする，据置形戸線用物品表面汚染モニタ(以
下，モニタという 。 )について規定する 。
引用規格
2
次に掲げる規格は
この規格に引用されることによって
この規格の規定の一部を構成する 。
これらの
引用規格は，その最新版(追補を含む 。 )を適用する D
Jl
SZ4001 原子力用語
JISZ4334 放射線表面汚 染 モニタ校正用線源一戸線放出核種( 最 大エネルギー 0 .1 5 MeV 以上)及び α
線放1:1:\核種
J1SZ8103 計測用語
3 用語及び定義
この規格で)司いる 主な 用語及び定義は， J
ISZ4001 及び JIS Z8103 によるほか，次による 。
3
.
1
表面放出率 (surface e
m
i
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s
i
o
nr
a
t
e
)
線源の表面又は線源窓から放出される単位時間当たりの戸粒子の数。
3
.
2
最小検出表面放出率 (minimum d
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a
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a
t
e
)
モニタで有意に計測できる表面放出 率 の最小限度。 最小検出表面放出率は，式(l )，，-，式 (3) によって求めら
れる 。
3
.
3
機器効率 (inst川nent e任侃lC口le白1恥 y)
標準級河!に 対して決められた幾何学的条件で測定したときの，検出チャネル又はモニタリングチャネル
の正味 .11' 数ネ と線源の表面放出率との比 。
3.
4
機器効率の線源位置特性 (variation o
fr
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)
検出面から 一 定距離の回上で線源位置を変化させたときの，機器効率の最小値と最大値との比。
著 作権法により無断で の 校日 ， 転技:1"は ;;~ IJー されております 。
2
Z4337:2
0
1
1
3. き
平均携器効率 (average i
n
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te
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c
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e
n
c
y
)
最小検出表面放出率を算出するときにJ:f:I v} る，モニタリン
わたる
ヤネ
3
.
6
代表点の機器効率 (ínstrument e
f
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c
yofar
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t
a
t
i
o
np
o
匤t
)
した平均機器効率の変化を確認するときに用いる
3
.
7
環境パックグラウンド
(ambient badくground)
し，単位 i ま μGy.h- 1
モニタが設問された場所のパックグラウンド 0
いる
3. 事
最大基準パックグラウンド (re先日 nce b
ackground)
ラウンドと人為的に?線照射によって付加さ
μ Gy.h-- を用いる。
め空気力一マ
ドは，
ックグラウン
との干
1
ックグラウンドは，
るために用いる。
3
.
9
検出チャネル (detection c
hannel
)
検出器単体じその檎出器に
る増幅器及び波高弁JjIJ 器とを
3
.
1
0
モニタリングチャネん (monitoring c
hannel
)
を測定するために，一つ又はニつ以上の検出チャネルで
3
.
1
1
棋出器の入射窓面積 (sensitive a
r
e
aofthedetector・〉
戸隷が検出器に実際に入射し得る
4
4
.
1
含む。
分類
;ßtl 定時の物品の移動の有無による分類
a
) 国定形
検出器と測定物品とを動かさないで汚染測定
々C
JM1}
b
) 移動形検出器が測定物品上を移動して汚染測定を
うモニタ
うそニタ，
を行うそニタ
4
.
2
制
測定時のパックグラウンド補償の有無による分類
パックグラウンド嶺噴形
溺定物品をモニタに設置し
モニタリングチャネルでバッ
いなし
クグラウンドを測定しておき，間定物 i日!な設置しているとき
ち測定直前のバックグラウン
ドの計数率を差し引くモニタ
制
パックグラウンド無諸鵠都パックグラウン
き
性能
ないモニタ
5
.
1 機器効率の韓源位霞特性
と最大値との比
5
.
2
7.2.2
したとき，
0.5 以上で、な
最小検出表面放出率
ります。
ちない。
3
Z4337:2
0
1
1
したとき， 200S~1 以下でなければならない。
7
.
2
.
3
ヱネルギー特性
5
.
3
との比は， 7ム4
と
る盤以上:で、会けれ試
したとき，
ならなし
5.
4
警報動作
は，
7
.
2
.
5
したとき，
オーパスケーん特性
5
.
5
才一パスケール特性
らない。
混度特性
指示館の変化は， 7
.
2
.
7
との取決めによる。
需湿性
指手植の変化は， 7
.
2
.
8
5
.
8
らない。 7.2.7 で規定した
土 30 %でなけ
を謡えた
5
.
7
を超えたことを示す表示を行い，そ
したとき，
のlJIU 定書1) 佐を表示しな
5
.
6
なければならない。
6.5 に
士山%でなければならなし ~o
したとき，
電源竃庄の変動に対する安定世
指示 fi査の変化は， 7ム9
したとき，
1
0%でな
ら会い。
講造
6
6.
1
構造一般
モニタの構造一較は，次による
a
) モニタは，続出チャネル，
どによって構成する。
b
) モニタは， ì題定物品
よく測定できるように検出器を配置し，検出器開の隙間をでき
ャネルを設け，
とする。また，
まし ")0
汚染以外の原因によっ
て警報装誼が動作しないものとする口
しないようにする核能を備えることが望ま
とし，電気的友び磁気的妨害，振動，
を生じにくい構造とする。また
ち
な
らない。
モニタ
測定物品のサイズ，
からのはみ出しなどの異常を自
しな汁ればならない。島動的な保護機能を
動的に検知し，物品を畏すなど，
しないような躍ろう
えても，
は，
とする。
内に
，検出面と物品表面と
る物品のサイズ
きる
ム}
と
g
)
連続使用に対して動咋が安定で
る。
いずれでもよい。
な
と
として定める
るc
日
まれにくし併寺
されている場合は，
b
) モニタに物品
しなければなちない。
また，異常時に誌，
し
で、きる
らない。
詩作!伝法により
れております合
モニタの駆動部は
をもっていなければな
4
Z4337:2
0
1
1
6
.
2
検出チャネル
検出チャネルは，次による 。
a
) 検出器は，汚染しにくい構造か，汚染除去又は交換が容易な構造でなければならない。
b
) 検出チャネルは，表面汚染を測定する戸線検出器のほかに ， y 線検出器を補助的に設置した構造であ
ってもよい 。
6
.
3
信号処理部
信号処理部は，次による。
a
) 保守点検が容易なようにテストパルス信号発生装置を組み込み，指示値の確認及び警報動作試験がで
きる構造であることが望ましい 。
b
) 測定時間は，変えられるものとする 。
6.
4
表示部
表示音1) は，次による o
a
) モニタの指示は，計 数〉ド ， ál- 数値又は表面汚染密度とする 。
b
) 汚染を検知したモニタリングチャネルを表示しなければならない。また，モニタが動作文は故障状態
であることを表示しなければならない。
c
) 任意の検出チャネルの指示を表示できるものとする。また， 検 出チャネルごとの警報設定値，下限 警
報設定値，バックグラウンドの異常及び高電圧の異常を表示できるものとする 。
6
.
5
警報装置
とご報装置は，次による o
a
) 汚染を検知した場合には， U 部 (点ポ 及び音)を発しなければならない。
b
) モニタの故障を検知した場 合 に は ， 警報(表示及び/又は音)を 発 しなければならない 。
なお，汚染と故障との 件報は，区別できなければならない 。
c
) 警報レベルは，少なく と も バックグラウンドレベルから，表面放出率 200 S-1 に対応する計数不 又はこ
れに相当する数値を含む 組 問で設定できなければならない 。
6
.
6
電源部
電源は，定格電圧 100 V 又は 200V ，定格周波数 50 Hz 又は 60 Hz の交流電源とする。
試験
7
7
.
1
試験条件
7
.1
.1 共通試験条件
7.2 の 各試験方法における基準条件を，表 1 に示す 。 特に，製造業者が定める場合を除き，この規格にお
ける訊験は，表 1 に示す標準試験条件で行う。標準試験条件で行えない場合は，温度
示し ，基 準条件での機器効率及び、パ ッ クグラ ウンド計数 率に補正 しなければならない 。
著 作 fi'"t にJ: 1
)，'~問ての回目 ， ~:;.眠 .~~ は 禁 止されております 。
気圧及び湿度を明
5
Z4
337:2011
1
共通試験条件
いとさ)
5
一割
了コ一一路
一
句ノ』一寸f 一はパ
2
l
ト一子一円
予熱時間
下レ叩'レ
視
無
ベ一べ
品向一レ一レ
知山一Qマ
一サハゲ
2 一き一き
札一で
V
M
u
a
G
無担できるレベル
る
b
)
これらの値は，
拭胤|時点での実限の{誌を
70kPa
i円 if~ しなければならない。
=会~~{I美 H1} には，
される。
7
.1
.2
線源
;1 線源として 137CS を用いる。ただし ， ß 線源については J1S Z4
334
戸線源として 36CI
念品川
いてもよい。その場合は.得ろれた機器地本を補正すること
るこれら
ししミ。
この限ちではない。
なお， 7.2.尋によるエネルギ
試験方法
7
.
2
7
.
2
.
1
一般
次によ山
した後に実施する。
a
)
る場合，
b
)
そ
目以外の条件は，表 1 tこ示す範囲内にな
ければなちないむ
7
.
2
.
2
機器効率の線濃位置特性試験
し 50 mm 以ドの間関の格子点に国従 25 1
1
1
m
ら 25mm 蕗たった各点にできるだけ均等な
以下の謀j原(3 6CI 又は 204rI)を
と最大値との比を算出する。ただし，検出
=て，各試験 j誌における
に見て分布が等しく
ると推定される検出チャネル群にグループ分けし，そ
してもよい(国 1 参照)。
の中から代表的な検出チャネ yしをそ
7
.
2
.
3 最小検出表面放出率試験
じて，次による。
なお，溜定物 i誌の表面放出に対応する放射'1主表面汚染の測定方法を，
~甘巌審 A
a
) 形式挨査形式検査は，次による
1
) 平均機器効率試験全てのそニタリングチャネんに対して， 1. 1) 又は1. 2) の
より
4長 n&/~与は禁止されており
6
Z4337:2
0
1
1
(εa)
を求める。また，一つのモニタリングチャネルに対して複数個の検出チャネルを用いている
場合には，それらの平均機器効率の平均値を使用する 。
2
なお ， ß 線入射窓面積が 1 000cm を超える検出器，又はこの検出器を組み合わせたモニタリング
チャネルから構成される大形のモニタは ， ß 線標準線源として面積が 100 cm2 以上の線源を用いても
よい 。 その 場合 は，線 源を検 出面の 緑 から 25 mm 隔た っ た範囲を覆うように，できるだけ均 等か っ
線源の 有効 面が極力重な らない ように置いて試験を行う 。
1
.1
) 固定形モニタ
試験時の線源と検出器との距離が汚染測定時と同じ距離になるようにし，検出面
と並行な面に 50mm 以下の間隔で直径 25 mm 以下の線源 e 6 Cl 又は 204 T l)を検出血-の縁から 25mm
を|除く各点にできるだけ均 等 な位置に順次置いて，各試験点におけ る機関 効 率を求める 。 各モニ
タリングチャネル内の全測定点の 機器効不 の平均値を算出し，平均 機 密J効 率 (ι)
とする(図 1 参
照) 。
1
.2
) 移動形モニタ
試験時の線源と検出器との距離が汚染測定時と同じ距離になるようにし，測定物
品の移動方向に対して直角の検出面と並行なラインに 50mm 以下の間隔で直径 25 mm 以下の線源
を検出面の縁から 25 mm 隔たった各点にできるだけ均等な位置に 順次置いて，測定時と同じ速度
で各試験点における 機器効率を求める D 各モニタリングチャネル内の全測定点の機器効率の平均
値を算出し，平均 機器効率(ら)
とする(図 2 参照 ) 。
単位
25
50 以下
25
LG
N
検出器
一
υ
i去
~)fl源
( φ25 以 下)
CU
l'コ
N
図 1- 機器効率の線源位置特性試験及び最小検出表面放出率試験の
平均機器効率試験(固定形モニタの場合)で線源を置く格子点
著作 j íi~ 江によ り 丙断ての はら~ . 申~隊 等は 禁 止されております。
mm
7
Z4337:2011
単位
mm
50 以下
図 2- 最小換出表面接出率試験の平均機器効率試j験で線j患を流す位欝
(移動形モニタで灘定物品が移動する場合)
2
) 代表点、の機器効率試験全ての樟出チャネんに対して F
，測定を弐表する
L ，総器効率 (ε1 )を求める。用いる諒諒の核種，
注記例えば，線源形状 l立場
10 cmX10cm 又は 10 cm 1
5cm
検
る。
10cm などがるる。
3
) パックグラウンドの灘定及び最小検出表面放出率の計算
モニタ
じて，
ニタワング
チャネんについて次の試験官行い，
i 主的Coy 隷源を用い各検出器 1:::1:: 1 心か
なお，最大基準パックグラウンド
は，指定がない場合は，モニタの横からとし，
ち少なくとも 3m
と製造業者との取決めがない場合は 0.25
指定がある場合には指定方向からとする。
トtGy. h- 程度とし，取決めがある場合には指定住とする。
I
3
.
1
) パックグラウンド播費形
最大基準ノてックグラウンドの環境下で，
10 分間以上パックグラウンド
に対応する計数率を測定し，各モニタワングチャネル/の;最大基準ノすックグラウンドに対品する
を求め.最小検出表面放出率 (M1 ) を式(1) によって算出する。
l
1
1
、、Fー'- t~叫，綱
,
.
.
.
.
.
.
.
.
1
V 、よ
ん-ノ
(
1
)
《ハ
1
)
A11 ・
ックグラウンドに
T:
物品測定時に
~
•
..~
~.~--
(
s1
)
される測定時間(心
(
s
)
システム
一~
る
.奮
ι
ε3 ・
転載等は禁止されております。
8
Z4337:2011
注記
移動形モニタの場合の T の値は， 繰返し計数を行う時間とする。ただし，移動方向の検
出 有効寸法を移動する 時間より 繰返し 計数時間が長い場合は，
検出有効寸法を移動す る
時間とする。
3
.
2
) パックグラウンド無補償形
環境ノてックグラウンド及び最大基第ノ f ックグラウンドの環境下でそ
れぞれ 10 分間以上自然計数率を測定し，各モニ タリングチャネルの 環境ノて ックグ ラウンドに対応
する計 数率及び最大基準ノ f ックグラウ ンドに対応する計数率を求め，最小検出表 面放出 率 (iVJ1 )
を式(2) によって算出する。
J
v
J二
/T
B2 -B
+
3
(
B
)
O
.S
1
2
・ ・ ・・・・・・・・・ ・・・・・ ・ ・ ・・・・・・・・ ・・・ ・・・ ・・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ・・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ・・ ・・・・・・・
-1
1
BI
ここに
環境バ ック グラウンドに対応する 計数 本 (s 一 1 )
B2 :
注記
(
2
)
Ca
巌大基準パックグ ラウンドに対応す る計数率 (s -1
)
T:
物品測定時に設定される測定時間 (s)
む:
平均機器効率
移動形 モニ タの場合の T の伯[は，
繰返し計 数を行う時間とする。ただし，
移動 方向の検
LU 有効寸法を移動する時間より繰返し計数時間が:f~ ;
1lj 号合は，検出有効寸法を 移 動す る
時間とする 。
b
) 受渡検査
受渡検査は，全ての検出チャネ ルに対して代表 点の 機器効 率(む)を求め，形式検査時に
求めた最小検 出表面 放出率 (M1 ) 及び代表点の 機 椋効率 (ε1) を使用して，式(3) によって受渡試験時
の最小表面放出率 (M2 ) を算出する 。 ただし，線源及びその配置は，形式検査 時の代表点の機器効率
(ε1) を測定したときと同じ条件とする。
M2 ニ M 1 X 三L ・ H ・ H ・-…~ ~ .....・ H ・...・ H ・-…・……・
・・…
…・…....・ H ・-…-一…・ (3)
…
C2
ここに
7ム4
)
形式検査時の最小検出表間放出率 (s - J
M1
ε
形式検査時の代表点の機器効 率
ゎ:
受渡検査時の代表点の機器効率
エネルギー特性試験
最大エネルギーが 0.2 MeV 未満， 0.2MeV 以r. 0
.
5MeV 未満及び 0.5 MeV 以上の少なくとも 3 衝の戸線
放 出核種を用いて， 7ム 3 a
) 1) によって平均機器効 率を求める。この試験に適した 綿 源の例を，表 2 に示
す。
表2
エネルギー特性試験に用いる主な戸線源の例
核積
半減期 d)
14C
5730 年
1
5
6
147Pm a
)
2.62 年
225
60Cob
)
5.27 年
310
3GCl
5
3
.
0
0X 10 年
710
3.78 年
7
6
3
28.5 年
2274
1. 01 年
35
4
0
2
0
4
T
1
90S r 十 90y c
)
1 0G
注 a)
1
1
)
Ru 十
14 7
106
Rh
Pm に対 する
14 6
最大エネルギー (keV)
Pm の混入が，試験に 膨響 を及ぼさないよう注意する 。
GOCo を用いる場合は ， y 線の影響に注意する。
りも+
ギ -ß 線だけを利用して もよい 。
d
)
半減期及び最大エネルギ ーは，
JISZ4334
t
'
(
ntl1iょにより向 lilj てー の r1~'l! .
による 。
化 4 R 笥;は禁 止 されております 。
d)
9
Z4337:2
0
1
1
7
.
2
.
5
警報動作試験
測定対 象 とする放射線又はパルス信号発生装置を用いて警報設定値を超える計数値を与えて， 6.5 の a)
及び c) に示す 警報動作の確認、試験を行う 。
7
.
2
.
6
この訊験は，全てのモニタリングチャネルについて行う 。
オーパスケール特性試験
モニタに卜分な指示値を与える線源(例えば ， ß 線の場合は， 1
05Bq 以上の 204 T l 又は 90 Sr + 90 Yß 線源)
を用いて検出器を照射し巌大指示範囲を超える計数値を与える。この試験は，全ての検出チャネルにつ
いて行う 。
7
.
2
.
7
温度特性試験
周岡温度 5
oC , 20 oC 及び
40 oC において，パックグラウンド及び、数え溶とし の影響 が卜分無視できる計
数率( 1
0
0
"
"
'1000s
-I 程度)が得られる放射線を照射して行う 。 モニタを動作状態にし，各温度(温度許容
差は，
:
t2 oc とする 。 )の環境に
1 時間以上放置した後，
100 秒以上測定し，指示値を読み取る。 20 oc に
おける指示値を基準値として，各温度における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率
を求める 。
この試験は， 装 置で使用している検出器の形状と大きさが同じ場合にはチャネルだけの測
定でよい 。 モニタが大きく恒漏槽などの試験装置に入らない場合は，検出チャネル又はモニタリングチャ
ネルとそれ以外の部分に分割して測定しでもよいが，検出チャネル及び、モニタリングチャネルの変動が前二
容範囲を満足し，それ以外の部分との変動の杭|が許容範聞を満足しなければならない 。 分割して測定する
場合は，検出チャネル又はモニタリングチャネルの試験のときに，測定対象の放射線を照射し，それ以外
の部分については，パルス信号発生装置を用いて検出チャネルからの出力信号に近似した波形の信号を信
号処埋部に入力して試験を行う 。
7ム8
耐湿性試験
周囲温度 35 oc で相対湿度 65 %及び 85 %において，バックグラウンド及び数え溶としの影替 が十分無視
できる計数 率 (100"'-' 1000s
-I 程度)が得られる放射線を照射して行う。モニタを動作状態にし，各相対湿
度(温度許容 差 は，士 5% とする 。 )の環境に 1 時間以上放置した後 100 秒以上測定し，指示値を読み取る。
相対混度 65 %における指示値を基準値として，相対温度 85 %における指示値から基準値を差しヲ|いた値
の基準値に対ーする 百 分率 を求める 。
7 ム9
この試験で照射する検出器及び分割測定方法は， 7 ム 7 による。
電源電圧の 変動 に対する安定性試験
電源電圧を定格LU 庄の 88 %及び 110 %とし
パックグラウンド及び数え落としの影警 が十分無視できる
計数率 (100"'-'1 000s 一!程度)の放射線を照射して 100 秒以上測定し，指示値を読み取る 。 定格電圧におけ
る指示値を基準値とし
各電圧における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求め
る。この試験で，照射する検出器は 7.2.7 による 。
なお，この試験においてコンベアなどの機構部には，定格電源電圧及び定格周波数の電源を供給する 。
8
検査
8
.
1
形式検査
形式検査は，次の項目について箇条 7 によって試験を行い，箇条 5 の規定に適合したものを合格とする o
a
) 機器効率の線源位置特性
b
) 最小検出表面放出率
c
) エネルギー特性
d
) 警報動作
e
) オーバスケール特性
ilfi 作 tií H: に上り照 H:í ての ~'l 'i'l. '-三献:， はた 1I二 されて お ります 。
1
0
Z4
3
3
7:2
0
1
1
宮14
品検
μ
紙日
ー今
、、 a，創
''M
廿父
査
恥払
刷受
CMW
に対する
目について行い，
ら
ょっ
目の
きの規
とする
、、
EFJ
ah
、、z ， f
表示
9
に沼えない方法で，次の項目を
モニタには
しなければならない。
a
) 名称
ち)
c
)
d
)
的
製造年月又はそ
め
製造業者名又はその略号
g
)
1
0 取扱説明書
モニタには，少なくとも次の項目を
した取扱説明書を添付しなけ
らない合
別名称，
お)
形状，
c
)
d
) 検出器の種類，入射窓のす法及び窓厚 (g ・ cm- 2 )
的
形式慣習 l守及び交技棋査時の代表点、の機器効率，子均機器甥半，棟準緑際法びそ
町
エネルギー特性
g
)
長」
h
)
JU
ン".'え
i
)
る
る。)
許容パックグラウンドレベル及び捕償方法
1
) 検出器と物品との位置関 f系で感度変化に大き
をちえる事項についての説明
k
) 被測定物品の寸法，賞最，形状などの制限
な操作，
開)
び校正の手頼
その他の耳支援しミ
れております。
ニタの場合は，コ
1
1
Z4
3
3
7:2011
[I1す属書 A
(参考)
据置形戸線用物品表面汚染モニタによる放射性表面汚染の測定方法
A.
1
一般原則
る Jら7去については， J
ISZ4504 による c
ついて，
J
I
SZ4504
ー評価を行うときのそ
につい
タ
A.2 放射性表面汚染の測定方法
モニタを用いて測定した物品の表面汚染密度は，次の式によって求める。
A
/
V
&aX 持，.る二
A: 表自白染密度 (Bq.cm イ)
(s …
N: 汚染を検出したモニタリングチャネル
ι7.2.3 で求め
1)
・
ws:
と
A.3 線源効率
ムの値が明らかでない場合には，安全側の数{践として
測定物 ifi!l
を用
し=ることが望ましし h
なお，
らかじめ明ら
は，その植を用いること
きる o
a
) 最大エネルギーがな 4MeV 以上の戸線の場合は， 0.5 とする
b
)
最大エネルギーが 0 .1 5 討のr 以上で 0 .4 MeV 未識の p 線の培合には，なおとする。
拳考文献
JIS Z4
504 放射性表面汚染の測定方法 -ß 譲放出核種
れております。
ネルギー 0.15 MeV 以上)
α
1
2
J
I
SZ4337:
2
0
1
1
置形 8 線用物品表菌汚染モニタ
語草
した事棋を説明するもので，規定の ω 」部ではない。
は，
この解説は，財団法人日
-発行するものであり，これに関する問合せ先は，財団法人
日本規格協会である。
今国立〉改正までの経韓
戸線用物品表面汚染モニタ Lt ，管理区域から搬出する物品の表面汚染を漏れなく効率的にモニタ
リングするために，測定を畠動化した装曹として表面汚染サーベイメータに代わって内
で広く利用されるようになった。このような状況の中で，この規路は，
1997 年物品表面汚染モニタ
より:甘されており， IEC61098:1992 , l
n
s
t
a
l
l
e
dp
e
r
s
o
n
n
e
ls
u
r
f
a
c
ec
o
n
t
a
m
i
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o
nm
o
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i
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n
g
a
s
s
e
m
b
l
i
e
sf
o
ra
l
p
h
aa
n
db
e
t
aemitters の考え方を参考として制定(以下，旧規轄という。)された後，今自の
改正に至った。
, J
I
S
今回，社間法人日
2
し， JIS 原案を作成した。この JIS
に中出し，日
る
E
I
を
され，平成 23 年 11 月 21
された。
今回の改正の趣旨
今回の改正では， [配 C 6
1
0
9
8
:1992 を鶴訳い技術的内容を変更して 2006 年に改正された JIS Z4338 (ハ
ンドフットモニタ及び件表面汚染モニター α 績及び/又は戸線用ノ\ンドプットモニタ及び体表面汚染モニ
タ入及び同じく 2006 年に制定された JIS Z4
340 (放射性汚染検査用ランドリモニタ)との整合を国ると
ともに，
このモニタに関する最新の知見を，
この現轄に反映することを目的とした
なお，関連する国器規格及び冨内規格は，次のとおりである
a
) 関連する間際規格
物品表面汚染モニタに対応する国捺規格はないが，
I主l 際的に適用できる規格化を
うため，大面積の検出器をもち，滞定の目動化を狩っている点で矧似しているそニタの規格として，
IE仁 610ヲ8 を
的
とした。
関連する国内規格物品表面汚染モニタ
あることから JIS Z
432 ヲ(股射性表面汚染サーベイメ~タ) ,
測定するという
J
I
SZ4338 及び JIS Z
4340 と関連している。
3
審議中 iこ特に問題となった事現
なった事項は，次のとおっである。
a
) 規轄の講蔵
、S
E
V
,
とした。規格本体はモニタとしての基本的な性龍現定を
lま
くするため，物品
される表面汚染密度とモニタで得られる測定値との関係を分かりやす
対応する表面汚染密度の錯定方法を説明した。ただし，
解
1
1I伝i段等は禁 JJ ‘されております
1
3
Z4337:2011 解説
度の測定方法については，
I主11捺規格と 一 一致した JIS Z 4504 [放射性表面汚染の測定方法 -ß 線放出核
概(最大エネルギー 0 .1 5 MeV以上)及び α 線放出核種]が既に制定されており，二重規定になるとの
意見が出た 。
このため，最近の規格は，附属書の位置付けを規定文は参考で分類するため，今回の改
正で附属書は参考とし， J
ISZ4504 に従い評価するときのモニタ固有の事項について示すこととした 。
b
) 性能
本体の箇条 5 に検出器の感光性，及び箇条 7 にそれに対応した遮光試験を加えるべきかどうか
議論した 。 審 議 した結果，次の事由で !25 光性及び遮光試験は規定しないものとした 。
1
) 遮光試験は，プラスチックシンチレーション検出器などの検出器単体の健全性を確認するための試
験である 。 一 方，この規格は物品表面汚染モニタに関するモニタ性能などを規定したもので，検出
器を上記のような遮光試験 を必要とする検出器種別に限定した規格ではないため，この規格に検出
器単体の遮光試験を記載することはなじまない。
2
) 検出器の遮光膜が破損している場合は，環境ノすックグラウンドに対応する計数 ギ が大きくなるので
最小検出表面放出 率 が大きくなり，規定値を大きく逸脱するため， 容 易に遮光膜の破損を容易に発
見できる。
3
) モニタは，移動可能な 装置もあるが使用 l二|二I は据え付けられており，サーベイメータのように環境が
変わることはない。したがって，遮光試験は，製造業者が自分たちの製品の品質保証のために行う
試験で十分であり，
この規格への五己 -載は不要で、ある。
さらに， J
ISZ4338 及び JIS Z4340 では他の放射線による影響 を規定していることから，この規
格で y 線の{;~符 を 追加すべきかどうかを 議論 した 。その結果，こ のモニタは戸線を測 定対象と して
おり， ァ線の lJ1~ 併 は最大基準ノ f ックグラウンド測定で評価できることから ， y 線の影響 は規定しない
こととした。
c
) 最小検出表面放出率
モニタの性能として 180 11929 , D
e
t
e
r
m
i
n
a
t
i
o
no
f
t
h
ec
h
a
r
a
c
t
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r
i
s
t
i
cl
i
m
i
t
s(
d
e
c
i
s
i
o
n
threshold , d
e
t
e
c
t
i
o
nl
i
m
i
t and l
i
m
i
t
s oft
h
ec
o
n
f
i
d
e
n
c
ei
n
t
e
r
v
al
)f
o
r measurements ofi
o
n
i
z
i
n
gr
a
d
i
a
t
i
o
n
ｭ
F
u
n
d
a
m
e
n
t
a
l
sandapplication に規定された決定しきい値 (decision threshold) 及び検出限界値 (detection
limi t)を，この規格に 導入すべきかどうか議論 した 。その結 果，国内で、は最小検 出 表面放 I=!J 率で、性能
評価するのが一月史的であり，決定しきい値及び検出限界値になじみがないこと，表面汚染測定に関連
する JIS
Z4329 , JISZ4338 及び
JIS
Z4340.fIÉびにこれらに対応する
IEC 規格でも導入されていない
ことから，今回の改正で導入は見送りとし，次回改正時に再検討すべき事項とした。
d
) 試験方法一般及び取扱説明書
旧規格では，ガスフロー検出器に関する規定が記載されていたが，現
在の国内での使用実績を調査した結果，物品表商汚染モニタにはカマスフロー検出器は使用されていな
いため，ガスフロー検出器に 関する規定 は削除した 。
e
) 構造
JISZ4338 及び JIS Z4340 ではガスフロー検出器を汚染検出器として使用した場合の構造及び
試験方法に関する規定が記載されており，これをこの規格に反映するかどうか議論した 。 国内の原子
力施設などで使用されている物品表面汚染モニタは，汚染検出器にプラスチックシンチレーション検
出器を使用しており，ガスフロー検出器を使用したものは存在しないため，
ム|二記の規定は反映しない
こととした 。
本体の 6.1 c) に規定する“モニタは，電源の投入など，汚染以外の原因によって誤って 警報装置が
動作しないものとする 。 "は， 具.体性がなく分かりづら いとの 意見があった。この規定は， 電源投入及
び信号ケープ、ルの|折 線，信号処理装置の故障などの汚染以外の要因に起因して汚染 吉報が誤発報する
ことを|坊 LI二することを目的とするものである 。
その汚染以外の要凶は，各製造業者で違うことから，
具体的な要因をつまびらかに記載できないので，現状どおりの記載とした 。
解
2
岩I 作 H ，ょに J り照阿ての杓 t;~ . 転 ~ 1 '. ， は禁 Ilーさ れております。
14
Z4337:2011 解説
わ
線源線加については， "
J
I
SZ4334 に規定する標準組掠"のような記載ではなく，具体的に
きとの意見があり， J
ISZ434告と整合を i当|り“戸線源として 36Cl 又泣
y 線源としてを HjIt)
る。"とし， J
ISZ4334 に規定する 60Co などの f患の標準線源も用いることができる規定とした。
g
) 機器殆率の隷漂位置特性拭験
直径 25 mm 以下の小面積線 11尽な使用し
うことは，試験点数が多くなりそニタ
ぎないかを議論した。その結果，
この試験は検出器関々
るため，
に可能な|恨り細かく潤定すべきであり，形式検査だけに
はかからない甘
とから，現状どおりとした。また，この試験での測定点位置を理解し
いように説明(図 1 及び図
引を追加し
戸線入射窓面積が 1 000cm 1 を超えるよう
h
) 最小検出表詣抜出率試験
として 100
U\ チャネル又はモニタワン
てよいことを追記した。〕
以上の大面積諒掠を住用し
されてい
あるが，
〕の規格の本体中に移し
によっては，実際より高めの平均機器効率を算定する可能性がある。このた
め，“その場合比…譲諒の有効面が極力重ならないように担いて試験を行う"な規定に追記し
り
エネルギー特性試験
本体の表 2 のエネルギー特性試験に用いる主な F 搾源は， J
ISZ4338 と
を図札変:更した。天熱ウランの揮準譲治;は，凶内では一般的に購入することが困難で，使11=1に当た
ち厳しい規制を受けることから実用的でないため，表から削除した。
となる主要核種がるでるち， 200keV 未満の抵エネルギ
ないことかち， 3 種の戸線放出核稀は 0 .4 MeV
0.
4"
'
1MeV , 1MeV 以上のエネルギ
ら選定すべきとの;意見があった。審議した結果，
に関する測定器に関わる
しも必要であることかち今後の課題とした。
適毘範冨について
4
内の原子力施設などで使用されている物品表面汚染モニタは ， 2 J書式の検出部を用いて一設の減定で戸
と y 線とを分離測定する装置が一部現用されている口しかし，表面汚染モニタは戸線測定が一般的
いられており ， y 線の場合は戸識と比較し透過作用が強く放射性表面汚染としての性能評価方法が一般化
していない。このため，この桐格の適用範関誌，今の改正でも戸線潤定に限定した。ただし， y 線検出
器は，戸線の感度が物品の形状によって左右されやすいという欠点、を補うなどの測定上のメリットが認め
られるので，本体の吾 .2 b) に 667 線検出器を補助的に設置した構造であってもよい。"という記載を今国の
も残したむ
規定項目の内容及び補足説明
5
日
用語及び定義(箇条 3)
J
I
SZ4338 と
i 日規格では，検出チャネル;玄
関器を含む最小の検 111 系と
ので，写本的に培 I~面器に合ま
5
.
2
した。
と，その検出器に対応する
されていたが，波形幣形回路はリニアアン
るものであるため，本体の 3.9 では
分類〈笛条 4)
毒事
3
れております c
波形整形回路及び波高弁
想定して記載していたも
を削除し
1
5
Z4337:2011
目は i 日規搭と同じである
JISZ4340 と勢合を図与，
を移動彩に，パックグラウンド
5
.
3
解説
をパックグラウンド補韻形
機器効率の線漉位置特性 (5.1 及び 7.2.2)
ついては，規諮制定時に IEC 61098:1992 の千足測定部の場合計可じ
0.5 を採用し，試験条件を物品表面汚染そニタの実状に合わせた方法にすべきとの意見が多くあり，今回も
この考え方で試験方法をまとめた。また，物品表面汚染モニタは一般的に同じ撞類の検出器を援数 ft言使用
した装置であるが，同一器類の検出器性能は単品誌験で一般的にはばらつきが士 10% 以下に管却されてお
り台の試険で問題とならないので代表的な検出器の試験でよいこととし
5.
4
最小検出張苗放出率 (5.2 及び 7.2.3)
最小検出表面放出率の誌験のための平均機器効本のまm 定点数は， 19tl えば，本体の図 I の割に示すように
検出器 i 台分でも 49 点と膨大な量となる。したがって，形式換査以後の試験の簡素化が必要で、あり，
ものとするために，
る
だし，規格化の主詩はあくま
し
したものであって，形式検査と
閉じ
るものではない。
るため鴻定位置と同じ距離で試給すること
と検出頭との距離について
上面又は下両の検出器が上下し，物品の大きさが異なっても，自
とした。現実に諜用されている
にいつも同じ距離となるよう
されているが，側面の検出器をもっ場合は，講造的
に{吏用されているむ側面の検出器試験は，
ることが難しいため
出器との距離，又
上下方向の物品と検
られている測定位置に線源を設定して1HIJï屈の検出器に関わる試験を行うも
のとした
最小検出表面放出率の算出式についても，肥C 61098:1992 を参考としているが，
官
あり，レートメータ溺定方式のシステムには適用できない。
レートメータ測定方式の場合は， f1吏用レートメータで実際の計測時間(物品の検出面移動時間)
したときに得られる最大の正味計数率と樟準綿諒の表面放出率との比から求めた最大機器効率(と及
び、レートメー夕刊%応答 (t90 ) 測定{請を，本体の式 (1
(り及び測定時間
U 及びめに代入した次の式で算出できる。
本体の式(1)を能用の場合の最小検出表面放出率 (lv!，) は，次の式となる。
lvI ,
Emax
ックグラウンドに対応する許数率 (S-l)
t90 :
εIlWX
技用レートメータの狗%応答時間お)
レートメーデ使用時に得られる
本体の式 (2) を使用の場合の最小検出表面放出率 (M，) は，次の式となる。
M， ニ
ハ
守
明こに
111 注文
Bl
環境パックグラウンドに対応する
ム:
最大基準ノすックグラウンドに対応する
1
9
0:
使用レートメータの 90% 誌答時間
e
nwx
レートメータ使用時に得られる
解
著作権法により
4
れております。
16
Z4337:2011 解説
5
.
5
(けの 2
0.87 は， 90%応答時間 (f90) を
7
/
0
.8
9
0
注記
る
講造(持条 6)
戸操用物品表面汚染モニタのブヨック留の例を，解説図 I 及び解説図 2
モニタリングチャネル;ム物品の各部位(前面，背面，上面，下面，右側面及び左関面)
されるケースが多い。例えば，物品 k 面を測定するために上面左右に検出チャネルが設けられるときには，
この二つの検出チャネルを一つのモニタリングチャネルに設定して，各検出チャネルから
した許数字で，物品上面の表面汚染密度を求めるものである。
5
.
6
電源部 (6.6)
出規格では，
1
0
0V
されていたが，国内の原子力施設などでの使用実績から 100
と
v 又は 200V の規定に変更した 0
5
.
7
試験方法一般けより
J
I
SZ433語及び JIS Z4340 と
本体の表 1
主宰
を留り
した D
受渡検査 (8.2)
l 日規格では，
けが想定されていたが，
ニタとして
E として追加した口
5
.
9
開属書 A
この填格では，表面汚染測定を行う測定器に関する冨器規格の考え方に従って，検出器の性能
2
る単位として最小検出表面放 Uj 率 (s ~ 1) を使用したが，国内では検出現界値 (Bq/cm ) が一般的に使用さ
れているむこの両者の関係は，間罵書 A によって
けることができる。
ある 2005- は，測定対象の汚染の広がりを 100 cm とし，
2
1
2
i こ，次の式によって Bq/cm に対応する。
200
1
)
したがって， 200
1
0
0(cmう +-0.5 (s-I/B弓)ニ 4 (Bq/cm2)
は α 椋を抜出しない核撞に関わる
らの持ち出し
2
為る 4 Bq/cm
となるむ
と
なお，汚染回轄として設定した 100 cm 2 は，スミヤろ紙による測定方法令ど一般的に使用されている
いた
JIS
Z4504 では，放射線灘定器の有効窓面積を用いることとなっているが，一般にモニタの有
2
誌 100 cm よりも大きし保守的な評価となる。放射性表面汚染の諒源効ギは，被測定物品の材
によって多少異なった値を示すが，大きな差のないことが，実験で証明されている。
ちかじめ明らかな場合の例として，床材などの投射性表面汚染の線源
ータを解説表 1 及び解説表 2 t こ示す。ま
面汚染に対す
ータは
髄" [日
モニタを
Vo1.6, No.3 , p
.
3
7
0
3
7
5 (2007 日からも
るときには，木材などを用いて物品の形状を模擬し
して行う
解き
著作権誌により
拡戟之宮;は禁 11 ~されております。
ること治まで、きる c
詐り，これに校正用戸
1
7
Z4337:2011 解説
解説表 1- 試験材料の仕様
材料
仕様
名称
コード
表面i 処現コンクリート
CC
エポキシ樹脂仕上げ
P タイル
PT
PVC 床材(市販品)
ロンリウム
LL
PVC 床材(市販品)
ポリエチレン
PE
コン クリ ー卜板上 の 0. 1 mm 厚のポリエチレンシート
ステンレス鋼板(滑而)
SS-S
SU304 (鏡面仕上げ)
ステンレス鋼板(粗而)
SS-R
SU304 (サンドプラスト処理)
ステンレス鋼板(ペイント)
SS-P
放射性物 n 輸送容器の表面の 悦阪
スミヤ訊験用ろ紙(滴下)
FP-D
放射性浴i伎を直接滴下
スミヤ試験用ろ紙(拭き取り)
FP-W
ポリエチレンシ」ト|二の放射能の拭き取り
解説表 2 一汚染線源効率試験結果
コード
放射性核種
1
47
Pm
6
0
C
o
1
3
7
C
s
2
0
4
T
I
9
0
Sr
_
Y
2
41Am
c
c
0.
45
0
.
5
2
0
.
6
3
0.
58
0
.
5
8
0.
42
PT
0
.
5
3
0.
48
0
.
6
1
0
.
5
6
0
.
5
5
0.
42
LL
0
.
5
9
0
.
5
9
0
.
7
1
0
.
6
0
0
.
6
2
0.
48
0
.
5
4
PE
47
0.
0
.
5
1
0
.
6
7
0
.
5
7
0
.
5
7
SS-S
0
.
5
7
0
.
6
4
0
.
7
6
0
.
6
6
0
.
6
6
0.
43
SS-R
0
.
6
2
0
.
6
8
0
.
7
6
0
.
6
6
0
.
6
7
0.
44
0
.
6
7
0
.
6
3
072
FP-D
0
.
0
7
0
.
1
5
0
.
3
0
0
.
2
8
43
0.
0
.
0
9
FP-W
0
.
5
0
0
.
5
5
0
.
6
3
0.
57
0
.
6
1
0.
48
SS-P
注記
試験デ 」タは， RADI01S0TOPES , 39 , 396-399 (1 990) による 。
解
6
著作 1税 法 により 1!!~ 断 での能 製， õl反戦;手 は禁 止 されて お りま す ο
Nh刊ωω吋一 NC44 帯出
一ぅ| 表示部 iく
信号処理部
〈ー叩叩う
鵬山山〉
¥Y
鴇
、』
州立恰にい
A
•
L._._.
ι
判
。川内
VV
|コント口一社
解説臨 1- 据置形 ρ 練用物品表面汚染モニタブロック図(回定形モニタ
ï
.ー圃一-一
糊A
c
o
ャネル
左様冨検出器
叩叩同圃ーーーーー』一
二叫
)ん一
川崎{サ命h
中L
日
<
被鴻定物品
<
F-i
鴇
。c
右側面検出器
h 川内
「
川川合ペ計〕
J
L. 一‘一掃ー・…‘一­
ー-~量四四岬山畑問削糊削
\才語検出器
ノ
~
下出輸出チャネル
山田明『岬園ーーーー- --四国国 )>1
据童形 p 線用物品表問汚染モニタブロック国(移動形世ニタの桝)
vv
.
1
.
ニコント口一ラ
￨
Nhい
ωω吋
解説園 2
電源部
「・一一明ー・
4c
い0
山44 事器
2
0
Z4
3
3
7:20 竹解説
6
原案作成委員会の構成表
原案作成委員会の構成表を，次に示す D
J
I
SZ4337 原案作成委員会
燕彰
田木
出
田
ヌ白』 可
男誠裕車義
0 00
島
犬俊
品川改一 E
山
l i-
矢
(委員)
河柚中辻朝高山村士山
(分科会委員長)
0
(委員長)
氏名
.
I
L
I
庇l
独立行政法人産業技術総合研究所
独立行政法人産業技術総合研究所計測l 標準研究部門
文部科学省科学技術・学術政 策 局原子力安全諜
経済産業省資源エネルギー庁 原 子-力・安全保安院
財団法人日本規格協会規格開 発 部
財団法人日本品質保証機構計量計測センター
社団法人日本アイソトープ協会医薬品アイソトープ部
独立行政法人 日本原子力開発機構核燃料サイクル工学
至郎想隆
俊
研究所
東京電力株式会社原子力運 営管理部
日本原子力発電株式会社 発電管理室
三 菱重工業株式会社原子力業務部
宏
問(今渡酒
0 0 00
辺
所属
独立行政法 人日本原子力開発機構原子力科学研究所
吋1
，~、
口
井
構成表
株式会社東芝電力システム社電力プラットフォ ーム開
井
発部
0 加
藤
徹
0 中
島定雄
0 桑原
富 士 電機シス テムズ株式 会社放射線システム音1)
均
株式会社日立製作所情報制御システム社
0 根岸公一郎
株式会社千代田テクノル原子力事業 本部
谷
小
治
西恵
西田
(事務局)
ア ロカ 株式会社計測システム技 lilìf部
子
経済産業省産業技術環境局基準認証 ユニ ッ ト
恵
JlS 登録認証機関協議会(日本品質保証機情 )
高橋義雄
注記
経済産業省情報通信機器課
社団法人日本電気計測器工業会
O 印は，分科会委員を示す。
(執筆者
角手
著 1 1 j û.; iL(こ よ り
てり杓 S-.! .
9
‘ k .'ìlt ・~，~. J上されております 。
中 島定雄)
合JIS 規~~衷及び JIS 規格段解説についてのお問合せは.持4 格開発部保準，;mまで.
できる限り泊予
メール (E-mail:[email protected] p) 又は FAX [(03)3405・ 5541] TEL [(03)5770・ 1571 ]でお願いいたしま
す 。 お!日j 合せにお答えするには ， IMJ 係先への確島等が必要なケースがこ守 ざいますので，多少お時
間がかかる地合がございます 。 あらかじめご了承ください 。
安JIS 規格栗の正~摂が発行された幼合は . 次の要領でご案内いたします 。
(1)当協会発行の月刊 誌 “際準化と品質代理"に，正 ・ 認の内平等を掲載いたします 。
(2) 原則として毎月 21 日 (21 日が土地{H ，日日記日又は休日の切合には，その翌日)に，“日経産
業新 UW' 及び“日干IJ 工業新|片r の JIS 発行の広告側で， 正 i渓京が発行された JIS 規賂番号及
び規格の名称をお知らせいたします 。
なお.当協会の JIS 予約者の方には，予約されている部門で正誤京が発行された上場合，自動的
にお送りいたします 。
安JIS 規格認のご注文は ， 出版事業部出版サービス第 一 課 [FAX(03)3583 ・0462 TEL(0
3)3583-8002]
まで .
お申込みください 。
J
1SZ4
337
鋸抗形 β 線用物品表面汚決モニタ
平成 23 年 11 月 21 日
i 1，l! À反
発行人
第 l 崩 発行
田中正明
先行所
財団法人
本規格協会
干 107・8440
東京都港区赤坂 4 丁目ト 24
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札幌支部干 060・0051
札制市中央区南 l 条政 1 丁目 5
TEL(
0
1
1)261 ・ 0045
名古屋支部干 460-0008
名古面市中区栄 2 丁目 6-1
TEL(052)221 ・ 8316(代表)
関西支部干 5引・0053
大阪市中央区本町 3
広 μ 市中区基町 5 ・44
TEL(082)22 ト 7023
福岡支部干 812・0025
本町野村ピル内
FAX(06)6261 ・9114
広品商工会 議所ピル内
FAX(
0
8
2
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2
2
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福岡市悼多区店毘町ト31
TEL(092)282 ・9080
白川ピル別館内
FAX(
0
5
2
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I4-10
TEL(06)6261 ・ 8086(代衣)
広 島 支部〒 730・0011
大通ノ f スセンターピル l 号館内
FAX(
0
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1)221 ・4020
博多アーパンスクエア内
FAX(092)282 ・9118
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， j 作 備法 に よ り 傾断での値観 . 長i眼寺 1 .1 対止 さ れ ておりま す
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JAPANESEINDUSTRIALSTANDARD
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