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-520 nF
±(1,0% v. M. +
5 St.) DF<0,1
19,999 nF
200 nF
±(0,7% v. M. +
3 St.) DF<0,5
1 pF
100 pF
2000 nF
19,999 µF
±(0,7% v. M. +
3 St.) DF<0,5
±(0,7% v. M. +
5 St.) DF<0,5
1 nF
20 µF
199,99 µF
±(1,0% v. M. +
5 St-.) DF<0,1
199,99 nF
10 nF
200 µF
1999,9 µF
±(5,0% v. M. +
5 St.) DF<0,1
10 pF
100 nF
2000 µF
10.000 mF
Cx
±(0,7% v. M. +
3 St.) DF<0,5
1 µF
10 mF
Max.
1999,9 nF
Min.
Bereich
Prüf-Frequenz 120 Hz
± (2,0% v.M.
+100/ CX + 5 St.)
DF<0,1
± (0,7% v.M.
+100/ CX + 5 St.)
DF<0,5
± (0,7% v.M.
+100/ CX + 5 St.)
DF<0,5
± (0,7% v.M.
+100/ CX + 5 St.)
DF<0,5
± (0,7% v.M.
+100/ CX + 5 St.)
DF<0,5
± (2,0% v.M.
+100/ CX + 5 St.)
DF<0,1
± (10% v.M. +100/
CX + 5 St.) DF<0,1
DF
nach offener Kalibrierung
nach offener Kalibrierung
---
---
---
nach kurzgeschlossener Kal.
nach kurzgeschlossener Kal.
Hinweis
3. Spezifikationen
3.1. Kapazität