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Kapitel 6. Inbetriebnahme und Funktionsprüfung des OPERA-PT
DAQ Lifetime in SM2
DAQ Lifetime [%]
DAQ Lifetime [%]
DAQ Lifetime in SM1
1
0.8
0.6
0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.4
0.3
0.2
0.2
0.1
0
512
514
516
518
520
522
524
526
528
Extraction No.
0
512
514
516
518
520
522
524
526
528
Extraction No.
Abbildung 6.11: Die relative Laufzeit der Datennahme, links für Supermodul 1
und rechts für Supermodul 2 von Extraction 370 bis Extraction 400.
6.2
Untersuchung der Rauschraten im Magneten
Die hohen Rauschraten werden von den Stromversorgungen der Magneten
verursacht. Diese arbeiten mit Schaltnetzteilen, die insgesamt ein Leistung
von mehreren Kilowatt zur Verfügung stellen. Die hochfrequenten elektrischen Schaltvorgänge in den Schaltnetzteilen liegen im MHz Bereich. Um
den Einfluss des Magneten auf das Rauschen in den Ebenen im Magneten zu
untersuchen, wurden zwei unterschiedliche Messungen durchgeführt.
Für die erste Messung wurden die Testpulse des OSUB genutzt und der
Einfluss des Stromes in den Spulen des Magneten untersucht. In der zweiten
Messung erzeugte das OTB zufällige Trigger, um mit diesen für verschiedene
Diskriminatorschwellen die Rauschrate zu bestimmen.
6.2.1
Testpulsmessung
Bei der Testpulsmessung erfolgte zunächst eine Referenzmessung, bei der die
Stromversorgung des Magneten komplett ausgeschaltet war. Bei eingeschalteter Stromversorgung, aber ohne Strom in den Spulen, wurde anschließend die
Rauschrate bestimmt. Durch sukzessive Erhöhung des Stromflusses konnte
in den weiteren Messungen die Rauschrate der Module sowohl im Magnet
als auch außerhalb bestimmt werden. Bei den Messungen wurden je 2 × 50
Ereignisse pro Sensor generiert. Wie in Abschnitt 4.2.3 beschrieben, generiert
das OSUB abwechselnd die Ereignisse für die geraden und die ungeraden
Kanäle. Das Stop–Signal wird über die Backplane verteilt und erreicht alle
Sensoren im jeweiligen Crate, während die Startsignale nur den zum OSUB