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ANÁLISE DE MATERIAIS POR ESPALHAMENTO DE RAIOS X A BAIXOS
ÂNGULOS
Rodrigo Zanatto dos Santos (VIC/UFMT)
Rogério Junqueira Prado (Orientador) Instituto de Física/UFMT
Email: [email protected]
No espalhamento de raios X a baixos ângulos (SAXS) um feixe de radiação incidente é
espalhado elasticamente pela função densidade eletrônica tridimensional do material
analisado. Para que ocorra o espalhamento, é necessário que haja variações de densidade
eletrônica em escala nanométrica. A técnica pode ser aplicada a uma vasta gama de materiais
(na forma de filmes finos, gel, pós ou soluções líquidas) e tem sido uma ferramenta muito
poderosa na elucidação estrutural de polímeros, micelas, macromoléculas e partículas em
solução, cristais líquidos, sistemas fractais, materiais nanoestruturados e também para o
estudo de inomogeneidades em filmes finos. A análise do perfil de SAXS permite a obtenção
de informações morfoestruturais dos elementos espalhadores presentes nas amostras, como
sua forma, tamanho ou distribuição de tamanhos, concentração, distância média de correlação,
densidade eletrônica e/ou estrutura fractal. Neste trabalho ilustraremos alguns dos principais
aspectos teóricos e experimentais da técnica e também como é feita a análise de um perfil de
espalhamento de raios X através do software GNOM, destacando sempre a grande
potencialidade da técnica.
Palavras-Chave: SAXS; Espalhamento; Raios X.
ISSN: 2237-244X