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Chapitre II: Modélisation analytique des caractéristiques statiques des différentes architectures CMOS. Par identification: Eq. II-25 Cette approche a l’avantage de proposer des expressions très simples qui donnent une bonne estimation de l’électrostatique d’un transistor conventionnel sur substrat massif. Cependant, les expressions ci-dessus ne tiennent pas compte de l’effet de la profondeur des jonctions source-drain (Xj) sur les paramètres SCE et DIBL. Or il est bien connu que la dimension Xj a un impact important sur le contrôle des effets canaux courts. Pour prendre en compte cet effet, [Gautier 03] remarque que la longueur électrique moyenne est diminuée si la profondeur de jonction augmente. Par observation géométrique, il évalue cette dépendance comme proportionnelle à (1+Xj²/L²), d’où les nouvelles expressions de DIBL et SCE : ( ) Eq. II-26 ( ) Eq. II-27 Où 0.64 et 0.8 sont des paramètres d’ajustement donnés par [Gautier 03] et déterminer d’après simulation numériques. Pour vérifier si cette méthode est bien prédictive pour l’évaluation de la tension de seuil et des effets canaux courts en fonction des principaux paramètres technologiques, nous avons effectué des simulations numérique 2D avec l’outil Synopsys [Synopsys] en faisant varier le dopage canal Nch, l’épaisseur d’oxyde de grille équivalente (EOT) et la profondeur de jonction (Xj). 350 800 Xj=10nm Vtlin (mV) 250 Nch=3e18cm3 600 EOT=1nm 500 200 150 Xj=20nm 100 50 0 50 Nch=8e18cm3 EOT=1nm 400 Xj=20nm 300 200 100 Lignes = modèle Symboles = simulations 0 Xj=10nm 700 Vtlin (mV) 300 100 L (nm) 150 Lignes = modèle Symboles = simulations 0 0 200 a) 50 100 L (nm) 150 200 b) 700 600 Nch EOT=2nm 400 300 Xj=20nm 200 Xj=10nm 1200 =3e18cm3 Vtlin (mV) Vtlin (mV) 500 1000 Xj=20nm 800 Nch=8e18cm3 600 EOT=2nm 100 400 Lignes = modèle Symboles = simulations 0 0 c) 1400 Xj=10nm 50 100 Lg (nm) 150 Lignes = modèle Symboles = simulations 200 200 0 d) 50 100 Lg (nm) 150 200 Figure II-4: Tracé de la tension de seuil en régime linéaire V tlin (Vd=0.1V) en fonction de la longueur de grille Lg pour différentes profondeur de jonction et d’EOT obtenue avec le modèle MASTAR et par simulation numérique 2D. a) EOT= 1nm, Nch=3e18cm3, a) EOT= 1nm, Nch=8e18cm3, a) EOT= 2nm, Nch=3e18cm3, a) EOT= 2nm, Nch=8e18cm3. 65